X射线衍射（XRD）测量中峰强度较弱可能是由于以下几个原因导致的：

1. 样品质量不佳：样品制备不当、晶体质量差、晶体尺寸小等因素都可能导致峰强度较弱。在样品制备过程中，应注意选择合适的晶体、适当研磨和研磨样品，以确保样品质量。
2. X射线源强度不足：X射线源的强度直接影响到峰强度的测量。如果X射线源的强度不足，可以尝试增加X射线源的电流或电压，或者更换更强的X射线源。
3. 探测器灵敏度不高：探测器的灵敏度也会影响到峰强度的测量。如果探测器灵敏度不高，可以尝试调整探测器的参数，或者更换更灵敏的探测器。
4. 测量条件不合适：测量条件的选择也会影响到峰强度的测量。例如，选择合适的扫描速度、扫描范围、角度步长等参数，以及合适的滤光片等，都可以对峰强度产生影响。

如果以上方法都无法解决峰强度过弱的问题，建议咨询专业的XRD仪器操作人员或相关领域的专家，以获取更具体的建议和帮助。